Pressemitteilung | VDI Verein Deutscher Ingenieure e.V. - Hauptgeschäftsstelle
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Interferenzmikroskope kalibrieren / Richtlinie VDI/VDE 2655 Blatt 1.1: Optische Messtechnik an Mikrotopografien / Kalibrieren von Interferenzmikroskopen an Tiefeneinstellnormalen für die Rauheitsmessung

(Düsseldorf) - Präzise Aussagen über die Beschaffenheit technischer Oberflächen sind heute in der Industrie unverzichtbar. Zur Qualifizierung von Ober­flächen werden dazu auch Interferenzmikroskope verwendet. Um vergleichbare und rückführbare Messergebnisse zu erhalten ist die Kalibrierung dieser Interferenz­mikroskope zwingend erforderlich. Die Richtlinie VDI/VDE 2655 Blatt 1.1 beschreibt ein Verfahren zur rückführbaren Kalibrierung und Charakterisierung von Interferenz­mikroskopen für die Rauheitsmessung.

Interferenzmikroskopische Verfahren sind ein wichtiger Bestandteil der Messtechnik zur Bestimmung der Mikro-Topographie von Oberflächen geworden. Verfahren, mittels der die physikalischen Grundprinzipien der Interferenz in zugehörige Oberflächen-Topographien umgesetzt werden, beschreibt die Richtlinie VDI/VDE 2655 Blatt 1.1. Gleichzeitig werden Methoden aufgezeigt, mit denen die Interferenzmikroskope in wesentlichen messtechnischen Eigenschaften charakterisiert werden können. Darin eingeschlossen sind die Rückführung und die Berechnung der Messunsicherheit von Geräteeigenschaften und Oberflächenkenngrößen. Die Richtlinie unterstützt den Anwender durch zahlreiche grafische Darstellungen und Tabellen, die Sachverhalte anschaulich darstellen.

Herausgeber der Richtlinie VDI/VDE 2655 Blatt 1.1 ist die VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik. VDI/VDE 2655 Blatt 1.1 erscheint in deutsch/englischer Fassung und ist ab März 2008 zum Preis von 73,20 ¤ beim Beuth Verlag in Berlin (Tel. +49 (0)30 / 26 01 - 22 60) erhältlich. Sie ersetzt den Entwurf vom April 2005. Weitere Informationen und Onlinebestellungen unter www.vdi.de/richtlinien oder www.beuth.de.

Quelle und Kontaktadresse:
VDI Verein Deutscher Ingenieure e.V., Hauptgeschäftsstelle Pressestelle Graf-Recke-Str. 84, 40239 Düsseldorf Telefon: (0211) 6214-0, Telefax: (0211) 6214-575

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